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内窥镜用取样钳产品描述: 通常由头部、杆部或软性导管和手柄组成,通过手柄操作传递、控制头部工作。一般头部采用不锈钢材料制成。 内窥镜用取样钳预期用途: 手术中在内窥镜下操作,用于钳取组织。 内窥镜用取样钳品名举例: 内窥镜活检钳、内窥镜活组织检查钳、内窥镜取样钳、内窥镜组织检查钳 内窥镜用取样钳管理类别: Ⅱ ...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年02月15日
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
机构所在地:湖北省武汉市
机构所在地:北京市
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:TTL 电路测试 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:TTL 电路测试 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 (GB 3439-1982)
机构所在地:辽宁省沈阳市
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
机构所在地:北京市
机构所在地:北京市
检测项:输入钳位电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输入钳位电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
机构所在地:湖北省宜昌市
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检测项:输入钳位电压 检测样品:数字集成电路 标准:GJB597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路
检测项:输入钳位电压 检测样品:数字集成电路 标准:GJB597A-1996 《半导体集成电路总规范》 GB/T17574-1998 《半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路》
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