共模抑制检测实验

激光扫描检眼镜

简介

激光扫描检眼镜

简介

激光扫描检眼镜产品描述：通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生强激光（GB 7247标准的3B、4），并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。

激光扫描检眼镜预期用途：用于眼功能和眼部疾患的检查诊断。

激光扫描检眼镜品名举例：激光扫描检眼镜、共焦激光扫描检眼镜、激光眼科诊断仪、共焦激光断层扫描仪、激光间接检眼镜

激光扫描检眼镜管理类别：Ⅲ

激光扫描检眼镜产品描述：通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生弱激光（小于等于GB 7247标准的3R），并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。

激光扫描检眼镜预期用途：用于眼功能和眼部疾患的检查诊断。

激光扫描检眼镜品名举例：激光扫描检眼镜、共焦激光扫描检眼镜、激光眼科诊断仪、共焦激光断层扫描仪、激光间接检眼镜

激光扫描检眼镜管理类别：Ⅱ

激光扫描检眼镜相关标准：

1、YY/T 1036-2004 压陷式眼压计
2、YY 0634-2008 眼科仪器眼底照相机
3、YY/T 0633-2008 眼科仪器间接检眼镜

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

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北京市电子产品质量检测中心

检测项：直流电压共模干扰抑制能力检测样品：数字多用表标准：数字多用表通用技术条件 GB/T 13978—2008

检测项：直流电压串模干扰抑制能力检测样品：数字多用表标准：数字多用表通用技术条件 GB/T 13978—2008

检测项：部分项目检测样品：电烤箱、面包烘烤器、华夫烙饼模及类似用途器具标准：家用和类似用途电器的安全电烤箱、面包烘烤器、华夫烙饼模及类似用途器具的特殊要求 GB 4706.14—2008

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中国测试技术研究院

检测项：电子单元输入共模抑制比检测样品：熔点仪标准：《熔点测定仪》 JB/T 6177-1992

检测项：电子单元输入共模抑制比检测样品：熔点仪标准：《熔点测定仪》 JB/T 6177-1992

检测项：长度检测样品：建筑物通信光纤布线系统（单模、多模）标准：综合布线系统工程验收规范 GB 50312-2007

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上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：共模抑制比检测样品：时基电路标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：共模抑制比检测样品：CMOS集成电路标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：共模抑制比检测样品：RF器件标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：共模抑制比检测样品：电压比较器标准：SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：共模抑制比检测样品：运算放大器标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：电源电压抑制比检测样品：CMOS电路标准：GJB548B--2005微电子器件试验方法和程序第4.5节方法5005.2

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西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：共模抑制比检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-1996

检测项：共模抑制比检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-1996

检测项：电源电压抑制比检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-1996

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国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：共模抑制比检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：电源电压抑制比检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：共发射正向电流传输比检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器第7部分双极型晶体管 GB/T4587-1994

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上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：共模抑制比检测样品：模拟集成电路标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：电源电压抑制比检测样品：模拟集成电路标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：纹波抑制比检测样品：晶体三极管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994

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北京尊冠科技有限公司

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：运算放大器标准：GB/T17940-2000 《半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路》

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：电压比较器标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：部分项目检测样品：抑制射频干扰固定电感器标准：GB/T16512-1996 抑制射频干扰固定电感器第一部分总规范 IEC 60938-1-1999 抑制射频干扰固定电感器第一部分总规范

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：A/D 、D/A转换器标准：《半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法》 SJ/T 10818-1996

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：模拟开关标准：《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》GB/T 14028-1992

检测项：共模抑制比（误差放大器）KCMR 检测样品：脉宽调制器标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：共模抑制比检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：共模抑制比检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

检测项：电源电压抑制比检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

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