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X射线探测器产品描述:X射线探测器(包括平板探测器或光电耦合器(CCD)探测器等)采用特定的光电转换介质将穿过人体的X射线信号转化为数字信号。影像系统一般包括图像传输,处理和显示系统。 X射线探测器预期用途:装配于或配合诊断X射线机,用于将X射线信号转化为数字信号。 X射线探测器品名举例:X射线平板探测器、X射线CCD探测器、X射线动态平板探测器 X射线...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月09日
检测项:C,Si,Mn,P,S,Cr,Ni,Mo,Cu,W,Al,Ti 检测样品:金属与合金 标准:不锈钢的光电发射光谱分析方法 GB/T 11170-2008
机构所在地:四川省自贡市
检测项:铁 检测样品:铝及铝合金 标准:铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法 GB/T 7999-2007
检测项:铜 检测样品:铝及铝合金 标准:铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法 GB/T 7999-2007
检测项:镁 检测样品:铝及铝合金 标准:铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法 GB/T 7999-2007
机构所在地:新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市
检测项:铝 检测样品:铝及铝合金 标准:GB/T 7999-2007铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法
检测项:铝 检测样品:铝及铝合金 标准:铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法 GB/T 7999-2007
机构所在地:新疆维吾尔自治区阿拉山口市