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气管插管用喉镜产品描述:通常由手柄、窥视片、内部电源和照明用光源组成,可带有视频显示功能。是一种气管插管时使用的辅助器械。 气管插管用喉镜预期用途:供临床挑起患者会厌部暴露声门,指引医护人员准确进行气道插管供麻醉或急救用,也可用于口腔内诊察、治疗。 气管插管用喉镜品名举例:麻醉喉镜、麻醉咽喉镜、视频麻醉喉镜、气管插管用喉镜、一次性使用麻醉喉镜、一次性使用麻醉咽喉镜、一...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月21日
检测项:噪声系数 检测样品:放大器 标准:GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:音频、视频及类似电子设备(安全) 标准:GB8898-2001 音频、视频及类似电子设备 安全要求 GB8898-2011 音频、视频及类似电子设备 安全要求 IEC 60065:2005 音频、视频及类似电子设备 安全要求 EN 60065:2005 音频、视频及类似电子设备 安全要求
检测项:维持电流(IH) 检测样品:运算放大器 标准:GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》
检测项:断态电流(ID) 检测样品:运算放大器 标准:GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》
检测项:低电平输出电流 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电压 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电流 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:电源电流 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:功能测试 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省连云港市 更多相关信息>>
检测项:部分参数 检测样品:声频功率放大器 标准:声频功率放大器通用技术条件SJ/T 10406-1993
检测项:部分参数 检测样品:音频、视频及类似电子设备 标准:音频、视频及类似电子设备 安全要求 GB 8898-2011
检测项:部分参数 检测样品:汽车收、放、扩音机 标准:音频、视频及类似电子设备 安全要求 GB 8898-2001
机构所在地:广东省江门市 更多相关信息>>
检测项:释放电压 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项:吸合时间 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项:释放时间 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项:差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:差分放大器的输出电压范围(仅直流测试) 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:集电极-基极击穿电压 检测样品:半导体集成运算放大器 标准:SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成运算放大器 标准:SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:高电平输出电流 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:漏极截止电流IDSS 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理
检测项:栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电压VIO 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>