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检测项：硅外延层、扩散层和离子注入层薄层的电阻 检测样品：微电子材料 标准：GB/T14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
检测机构：国家材料分析检测中心 更多相关信息>>
检测项：硅片方块电阻及电阻率 检测样品：晶体硅太阳能电池与硅片 标准：硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 GB/T 14141-2009
检测机构：国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>
检测项：电阻率 (电阻系数) 检测样品：半导体材料 标准：硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 GB/T 14141-2009
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
