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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:部分项目 检测样品:冰箱 标准:家用制冷器具-特性和测试方法(EN ISO 15502: 2005)
检测项:部分项目 检测样品:冰箱 标准:家用制冷器具-特性和测试方法 EN ISO 15502:2005
检测项:部分 项目 检测样品:电钻、冲击钻 标准:手持电动工具的安全 第二部分:电钻及冲击钻的专用要求 IEC 60745-2-1:2003 + A1:2008
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:四轮全地形车 标准:American National Standard Four Wheel All-Terrain Vehicles ANSI/SVIA-1-2007
检测项:整车耐久性 检测样品:两轮全场地车 标准:SN/T 1853-2006 进出口两轮全场地车检验规程
检测项:整车耐久性 检测样品:四轮全地形车 标准:ANSI/SVIA-1-2010 美国国家标准 四轮全地形车
机构所在地:浙江省金华市 更多相关信息>>
检测项:锌 检测样品:水和废水 标准:工业循环冷却水和锅炉用水中铜的测定 GB/T 13689-2007
检测项:铜 检测样品:水和废水 标准:工业循环冷却水和锅炉用水中铜的测定 GB/T 13689-2007
检测项:铜、锌 检测样品:水和废水 标准:工业循环冷却水及水垢中铜、锌的测定 原子吸收光谱法 GB/T 14637-2007
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:温度循环 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:温度循环 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996
检测项:温度循环 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:镀锌层质量 检测样品:金属与合金 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验 GB/T 2423.34-2005
检测项:镀锌层质量 检测样品:金属与合金 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db:交变湿热(12h+12h循环) GB/T 2423.4-2008 IEC 60068-2-30:2005
检测项:镀锌层质量 检测样品:金属与合金 标准:环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验 GB/T 2423.34-2012 IEC 60068-2-38:2009
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:热循环试验 检测样品: 标准:光伏组件安全认证 第二部分:试验要求 IEC 61730-2:2004
检测项:可接触性试验 检测样品: 标准:
检测项:抗划伤试验 检测样品: 标准:
机构所在地:江苏省金坛市 更多相关信息>>
检测项:热循环试验 检测样品: 标准:金属镀层的定性附着力热淬火测试 ASTM B571-97(2008)e1
检测项:热循环试验 检测样品: 标准:金属镀层的定性附着力热淬火测试 ASTM B571-97(2008)e1
检测项:热循环试验 检测样品: 标准:供水管道装置 ASME A112.18.1-2005/CSA B125.1-05
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:耐环境试验 检测样品:汽车内部装饰件 标准:PV1200:2004 汽车零件的耐环境循环试验(+80/-40)℃
检测项:耐环境试验 检测样品:汽车内部装饰件 标准:PV2005:2000 汽车零件的耐环境循环试验
检测项:耐摩擦性能 检测样品:汽车内部装饰件 标准:GMW3208:2007 旋转摩擦测试:泰伯尔
机构所在地:江苏省太仓市 更多相关信息>>
检测项:温度循环测试 检测样品:自整流LED灯泡 标准:电压>50V的普通照明用LED灯泡-性能标准 IEC 62612:2013
检测项:耐久性试验 检测样品:灯具 标准:灯具 – 第一部分: 通用要求与试验 AS/NZS 60598.1: 2003 AS/NZS 60598.1: 2013
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项: 检测样品: 标准:温度循环(Temperature Cycling) JESD22 Method A104D-2009
检测项:高温试验 检测样品:电子元器件 标准:温度循环(Temperature Cycling) JESD22-A104D:2009
检测项:高低温循环试验 检测样品: 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051