绝缘栅型场效应管中栅-源短路时的栅极泄露电流IGSS的检测

检测项：栅-源短路时的栅极泄露电流IGSS 检测样品：绝缘栅型场效应管 标准：GB/T4586-1994/IV2.2 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应管

检测机构：国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>

场效应管中漏--源短路时的栅极截止电流IGSS的检测

检测项：漏--源短路时的栅极截止电流IGSS 检测样品：场效应管 标准：《半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管》 GB/T4586-1994

检测机构：国家机械电子产品环境与可靠性质量监督检验中心 更多相关信息>>

西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：栅极串联等效电阻 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：功率MOSFET栅极串联等效电阻测试方法JESD24-11:2002

检测项：栅极漏电流 检测样品：小型开关电源 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3411.1

检测项：栅极漏电流 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3411.1

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：漏-源短路时， 栅极截止电流 栅极漏泄电流 IGSS 检测样品：场效应晶 体管 标准：GB/T 4586－94《半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：漏--源短路时的栅极截止电流IGSS 检测样品：晶体二极管 标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：栅极漏泄电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：栅极漏电流 检测样品：场效应 晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：漏--源短路时的栅极截止电流IGSS 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：栅极截止电流 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

检测项：栅极截止电流 检测样品：二极管 标准：GB/T 4023-1997《半导体器件:分立器件和集成电路 第2部分: 整流二极管》 GB/T6571-1995 《半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：栅极截止电流IGSS 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

检测项：栅极截止电流IGSS 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：栅极泄漏电流 检测样品：场效应管 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：栅极泄漏电流 检测样品：场效应管 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管

机构所在地：上海市 更多相关信息>>