西安电力电子技术研究所电力电子实验室

检测项：维持电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

检测项：断态电压临界上升率 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

检测项：换向电压临界上升率 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

北京市电子产品质量检测中心

检测项：维持时间试验 检测样品：微小型计算机系统设备用开关电源 标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T 14714—2008

检测项：可靠性及寿命 检测样品：台式喷墨打印机 标准：台式喷墨打印机通用规范 GB/T 17974—2000

检测项：可靠性及寿命 检测样品：台式激光打印机 标准：台式激光打印机通用规范 GB/T 17540—1998

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京市计量检测科学研究院

检测项：维持时间 检测样品：信息设备用不间断电源 标准：《信息设备用不间断电源通用技术条件》 GB/T14715-1993

检测项：维持时间 检测样品：开关电源 标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T14714-2008

检测项：包装空隙率 检测样品：食品和化妆品过度包装检验 标准：《食品和化妆品包装计量检验规则》 JJF1244-2010

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：维持电流 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器测试方法 SJ 2215.2-1982

检测项：电压调整率 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第

检测项：电流调整率 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：维持电流（IH） 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》

检测项：维持时间 检测样品：对绞电缆 标准：YD/T 1019-2001《数字通信用实心聚烯烃绝缘水平对绞电缆》

检测项：1026 稳态工作寿命 检测样品：半导体器件 标准：GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

昆山嘉华电子有限公司实验室

检测项：温度寿命 检测样品：电子及电气零组件 标准：电连接器及插座的温度寿命试验程序(有或无电气负荷) EIA-364-17C-2011

机构所在地：江苏省昆山市 更多相关信息>>

申鹭达股份有限公司实验室

检测项：寿命 检测样品： 标准：

检测项：寿命 检测样品：单一龙头和混合龙头 标准：卫生用龙头—类型1和类型2供水系统用单一龙头和混合龙头—一般技术规范 BS EN 200：2008

机构所在地：福建省南安市 更多相关信息>>

长春汽车检测中心

检测项：使用寿命 检测样品： 标准：

检测项：全部参数 检测样品：前 轴 标准：QC/T 513-1999(2009) 汽车前轴台架疲劳寿命试验方法

检测项：全部参数 检测样品：驱动桥 标准：QC/T 483-1999(2009) 汽车前轴疲劳寿命限值

机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>

北京市产品质量监督检验院

检测项：常温循环寿命 检测样品： 标准：

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西安微电机研究所微电机实验室

检测项：寿命 检测样品： 标准：

检测项：寿命 检测样品：旋转 变压器* 标准：旋转变压器通用 技术条件 GB/T10241－2007

检测项：寿命 检测样品：旋转 变压器* 标准：旋转变压器通用 技术条件 GB/T10241－2007

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>