半导体HTOL（高/低温操作生命期试验）试验，实验的条件和产品信息：实验条件：125℃/1008h @1.14V（min）实验产品：QFP100及QFP144，样品数各为77颗。产品大小：QFP100产品大小为14X14（mm），QFP144产品大小为20X20（mm）。_电子电气检测

问题分类：
检测求助
所属行业：
电子电气
地区要求：
全国
信息有效期：
一周
具体要求：
半导体HTOL（高/低温操作生命期试验）试验，实验的条件和产品信息：实验条件：125℃/1008h @1.14V（min）实验产品：QFP100及QFP144，样品数各为77颗。产品大小：QFP100产品大小为14X14（mm），QFP144产品大小为20X20（mm）。
单位名称：
***************公司
联系人：
王******
联系电话：
137********
电子邮件：
*****@*****.com
点击查看联系方式免费发布检测需求
咨询热线：400-818-0021

如果您来自检测机构，可以为此提供检测服务，请留下您的联系方式，我们将尽快与您联系。