本文简述了电子元器件筛选的必要性，分析了电子元器件的筛选项目和应力条件的选择原则，介绍了几种常用的筛选项目和半导体的典型筛选方案设计。

2019/04/08 更新 分类：科研开发 分享

随机振动应力筛选是一种有效的提前暴露产品缺陷的方式，在之前因为工装振动放大以及控制点、监测点的选择不适宜，特别是在正式振动之前的摸底振动（功率谱“挖坑”）不充分或者未进行,容易导致电子设备单板上部件过振动，筛选应力超过设计极限，损坏设备。

2021/04/25 更新 分类：科研开发 分享

HALT/HASS试验技术能高度压缩试验时间，使产品的潜在缺陷在设计和制造阶段得以暴露，为能根治设计和制造薄弱环节提供确切的改进信息

2019/06/19 更新 分类：法规标准 分享

本文通过模拟过电应力（静电、浪涌、直流）来分析半导体器件在各种极端电应力环境下失效的现象和机理，及如何利用好TVS降低过电应力危害。

2021/11/24 更新 分类：科研开发 分享

根据以往产品筛选的试验数据积累，确定对剔除早期失效品筛选有效（在非破坏性应力作用下，淘汰率较高）的试验项目

2016/07/20 更新 分类：实验管理 分享

电子产品的失效，大约70%是由环境应力引起的。因此，环境可靠性测试是验证产品在使用、运输或储存等所有环境下，能否保持其功能正常运行的重要监控手段。环境应力测试主要分为气候环境应力和机械环境应力两个方面。本文主要介绍一下环境可靠性测试的常用测试方法。

2021/03/26 更新 分类：法规标准 分享

依据GJB450A《装备可靠性工作通用要求》分类，可靠性试验可以分为环境应力筛选、可靠性研制试验、可靠性增长试验、可靠性鉴定试验、可靠性验收试验、寿命试验。

2018/03/06 更新 分类：法规标准 分享

本篇主要介绍导致电子产品失效的几种主要环境应力。

2021/04/07 更新 分类：生产品管 分享

本文介绍了晶型筛选与盐型筛选

2022/11/19 更新 分类：科研开发 分享

高加速试验一般分为高加速寿命试验和高加速应力应力筛选试验，高加速寿命试验（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验）是一种利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示电子和机械装配件设计缺陷和不足的过程。

2023/02/27 更新 分类：法规标准 分享