| 集成电路电压比较器 |
共模抑制比 |
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.9 |
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| 集成电路电压比较器 |
最大共模输入电压 |
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.10 |
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| 集成电路电压比较器 |
电源电压抑制比 |
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.11 |
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| 集成电路电压比较器 |
最大差模输入电压 |
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.12 |
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| 集成电路电压比较器 |
输出高电平电压 |
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.13 |
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| 集成电路电压比较器 |
输出低电平电压 |
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.14 |
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| 集成电路电压比较器 |
高电平输出电流 |
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.15 |
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| 集成电路电压比较器 |
低电平输出电流 |
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.16 |
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| 集成电路电压比较器 |
响应时间 |
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.21 |
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| 集成电路电压比较器 |
选通延迟时间 |
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.22 |
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