| 电工电子产品 |
太阳辐射 |
环境试验 第2部分：试验方法 试验Sa：模拟地面上的太阳辐射及其试验导则 GB/T 2423.24-2013 IEC 60068-2-5:2010 |
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| 电工电子产品 |
低温/振动(正弦) |
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/Afc：散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.35-2005 IEC 60068-2-50:1983 |
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| 电工电子产品 |
高温/振动(正弦) |
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BFc：散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.36-2005 IEC 60068-2-51:1983 |
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| 电工电子产品 |
高温/振动(正弦) |
环境试验 第2-53部分：试验和指南 组合气候（温度/湿度）和动态（振动/冲击）试验 IEC 60068-2-53:2010 |
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| 电工电子产品 |
高加速寿命 |
电工电子产品加速应力试验规程 高加速寿命试验导则 GB/T 29309-2012 |
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| 电工电子产品 |
高加速寿命 |
电测量设备 可信性 第41部分：可靠性预测 IEC 62059-41：2006 |
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| 微电子器件 |
机械冲击 |
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 2002.1 |
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| 微电子器件 |
振动 |
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 2005、2007、2026.1 |
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| 微电子器件 |
恒定加速度 |
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 2001.1 |
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| 微电子器件 |
温度冲击 |
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 1011.1 |
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