| 电子及电气元件 |
振动 |
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 201、204、214 |
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| 电子及电气元件 |
恒定加速度 |
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 212 |
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| 电子及电气元件 |
低气压 |
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 105 |
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| 电子及电气元件 |
爆炸性大气 |
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 109 |
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| 电子及电气元件 |
温度冲击 |
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 107 |
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| 电子及电气元件 |
机械冲击 |
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法 213B |
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| 电工电子产品 |
温度变化 |
环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 GB/T 2423.22-2012；IEC 60068-2-14:2009 GB/T 2423.22-2012；IEC 60068-2-14:2009 |
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| 电工电子产品 |
低温/低气压 |
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AM: 低温/低气压综合试验 GB/T 2423.25-2008；IEC 60068-2-40-1976AMD.1:1983 GB/T 2423.25-2008；IEC 60068-2-40-1976AMD |
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| 电工电子产品 |
高温/低气压 |
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AM: 高温/低气压综合试验 GB/T 2423.26-2008 IEC 60068-2-41-1976AMD.1:1983 |
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| 电工电子产品 |
高压蒸汽 |
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热 GB/T 2423.40-2013 IEC 60068-2-66:1994 |
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