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正电子发射断层成像及磁共振成像设备中二维扫描的层厚检测

  • 样品名称:正电子发射断层成像及磁共振成像设备

  • 检测项目:二维扫描的层厚

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:YY/T1719-20234.2.3 正电子发射断层成像及磁共振成像设备通用技术要求

  • 服务地点:北京市

  • 适用范围:医疗器械

  • 标签: 正电子发射断层成像及磁共振成像设备 二维扫描的层厚 YY/T1719-20234.2.3 正电子发射断层成像及磁共振成像设备通用技术要求

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