| 电子元器件 |
键合强度 |
《微电子器件试验方法和程序》
GJB548B-2005 |
咨询
|
| 电子元器件 |
键合强度 |
《半导体分立器件试验方法》
GJB128A-1997 |
咨询
|
| 电子元器件 |
键合强度 |
《军用电子元器件破坏物理分析方法》GJB4027A-2006 |
咨询
|
| 电子元器件 |
芯片粘附强度 |
《微电子器件试验方法和程序》
GJB548B-2005 |
咨询
|
| 电子元器件 |
芯片粘附强度 |
《半导体分立器件试验方法》
GJB128A-1997 |
咨询
|
| 电子元器件 |
芯片粘附强度 |
《军用电子元器件破坏物理分析方法》GJB4027A-2006 |
咨询
|
| 电子元器件 |
颗粒碰撞噪声检测 |
《微电子器件试验方法和程序》
GJB548B-2005 |
咨询
|
| 电子元器件 |
颗粒碰撞噪声检测 |
《半导体分立器件试验方法》
GJB128A-1997 |
咨询
|
| 电子元器件 |
颗粒碰撞噪声检测 |
《军用电子元器件破坏物理分析方法》GJB4027A-2006 |
咨询
|
| 电子元器件 |
颗粒碰撞噪声检测 |
《电子及电气元件试验方法》
GJB360B-2009 |
咨询
|
