| 电子元器件 |
元素分析 |
《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 |
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物理尺寸 |
《微电子器件试验方法和程序》
GJB548B-2005 |
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物理尺寸 |
《 半导体分立器件试验方法》
GJB 128A-1997 |
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老炼 |
《微电子器件试验方法和程序》
GJB548B-2005 |
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《半导体分立器件试验方法》
GJB128A-1997 |
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老炼 |
《电子及电气元件试验方法》
GJB360B-2009 |
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密封性 |
《军用电子元器件破坏物理分析方法》GJB4027A-2006 |
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密封性 |
《微电子器件试验方法和程序》
GJB548B-2005 |
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密封性 |
《半导体分立器件试验方法》
GJB128A-1997 |
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《电子及电气元件试验方法》
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