电子及电气元件 |
高温试验 |
GB/T2423.2-2008/第2部分:试验方法试验B:高温 电工电子产品环境试验 |
咨询
|
电容 |
等效串联电阻 |
GB/T2693-2001/4.8.2 电子设备用固定电容器第1 部分:总规范 |
咨询
|
电容 |
外观 |
GB/T2693-2001/4.4.1 电子设备用固定电容器第1 部分:总规范 |
咨询
|
电容 |
损耗角正切 |
GB/T2693-2001/4.8.1 电子设备用固定电容器第一部分:总规范 |
咨询
|
电位器 |
总阻值R |
GJB360B-2009/方法303 电子及电气元件试验方法 |
咨询
|
电位器 |
电气连续性 |
GJB917A-2011/4.5.3 线绕预调电位器通用规范 |
咨询
|
电流电压传感器 |
额定输出 |
GB/T18459-2001/3.3 传感器主要静态性能指标计算方法 |
咨询
|
电容 |
电容量C |
GB/T2693-2001/4.7 电子设备用固定电容器第1部分:总规范 |
咨询
|
电容 |
高温寿命试验 |
GJB360B—2009/方法108 电子及电气元件试验方法 |
咨询
|
电容 |
温度冲击试验 |
GJB360B—2009/方法107 电子及电气元件试验方法 |
咨询
|