| 额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器 |
冲击 |
电子设备用固定电容器第五部分：分规范 额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器试验方法的选择和一般要求 GB/T6261-1998, IEC384-5:1993 4.9 |
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| 额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器 |
气候顺序 |
电子设备用固定电容器第五部分：分规范 额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器试验方法的选择和一般要求 GB/T6261-1998, IEC384-5:1993 4.1 |
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| 额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器 |
稳态湿热 |
电子设备用固定电容器第五部分：分规范 额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器试验方法的选择和一般要求 GB/T6261-1998, IEC384-5:1993 4.11 |
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| 额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器 |
耐久性 |
电子设备用固定电容器第五部分：分规范 额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器试验方法的选择和一般要求 GB/T6261-1998, IEC384-5:1993 4.12 |
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| 额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器 |
元件耐溶剂 |
电子设备用固定电容器第五部分：分规范 额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器试验方法的选择和一般要求 GB/T6261-1998, IEC384-5:1993 4.13 |
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| 额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器 |
标志耐溶剂 |
电子设备用固定电容器第五部分：分规范 额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器试验方法的选择和一般要求 GB/T6261-1998, IEC384-5:1993 4.14 |
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| 1类瓷介固定电容器 |
碰撞 |
电子设备用固定电容器 第8部分：分规范1类瓷介固定电容器 GB/T5966-2011, IEC60384-8：2005 4.9 |
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| 1类瓷介固定电容器 |
冲击 |
电子设备用固定电容器 第8部分：分规范1类瓷介固定电容器 GB/T5966-2011, IEC60384-8：2005 4.1 |
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| 1类瓷介固定电容器 |
气候顺序 |
电子设备用固定电容器 第8部分：分规范1类瓷介固定电容器 GB/T5966-2011, IEC60384-8：2005 4.11 |
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| 1类瓷介固定电容器 |
稳态湿热 |
电子设备用固定电容器 第8部分：分规范1类瓷介固定电容器 GB/T5966-2011, IEC60384-8：2005 4.12 |
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