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金属及其合金材料、半导体及非导体材料中锂、铍、硼、氟、钠、镁、铝、锗、硫、磷、氯、钾、钙、钪、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、镓、砷、硒、溴、铷、锶、钇、锆、铌、钼、钌、铑、钯、银、镉、铟、锡、锑、碲、碘、铯、钡、镧、铈、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥、铪、钽、钨、铼、锇、检测

  • 样品名称:金属及其合金材料、半导体及非导体材料

  • 检测项目:锂、铍、硼、氟、钠、镁、铝、锗、硫、磷、氯、钾、钙、钪、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、镓、砷、硒、溴、铷、锶、钇、锆、铌、钼、钌、铑、钯、银、镉、铟、锡、锑、碲、碘、铯、钡、镧、铈、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥、铪、钽、钨、铼、锇、

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中痕量金属杂质的测试方法 ASTM F1845-08(2016)

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 金属及其合金材料、半导体及非导体材料 锂、铍、硼、氟、钠、镁、铝、锗、硫、磷、氯、钾、钙、钪、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、镓、砷、硒、溴、铷、锶、钇、锆、铌、钼、钌、铑、钯、银、镉、铟、锡、锑、碲、碘、铯、钡、镧、铈、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥、铪、钽、钨、铼、锇、 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中痕量金属杂质的测试方法 ASTM F1845-08(2016)

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