国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：半导体器件
检测项目：结-壳热阻和结-壳瞬态热阻抗
认可资质：其它
检测标准：基于单一传热路径的半导体器件结壳热阻测试方法：热瞬态双界面法 JESD 51-14: 2010
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 半导体器件 结-壳热阻和结-壳瞬态热阻抗 基于单一传热路径的半导体器件结壳热阻测试方法：热瞬态双界面法 JESD 51-14: 2010
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