| A/D转换器 |
数字输出低电平电压 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理SJ20961-2006 |
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| A/D转换器 |
数字输入高电平电压 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理SJ20961-2006 |
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| A/D转换器 |
数字输入低电平电压 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理SJ20961-2006 |
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| A/D转换器 |
数字输入高电平电流 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理SJ20961-2006 |
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| A/D转换器 |
最高工作频率 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理SJ20961-2006 |
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| A/D转换器 |
最低工作频率 |
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| A/D转换器 |
电源电压灵敏度 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理SJ20961-2006 |
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| A/D转换器 |
失码 |
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理SJ20961-2006 |
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| 半导体集成电路 |
内部目检 |
合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范GJB7400-2011 |
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| 半导体集成电路 |
温度循环 |
合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范GJB7400-2011 |
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