| 测试场地 |
归一化场地衰减 |
CISPR16-1-4:2019ED4.0 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备 辐射骚扰 测量用天线和试验场地 |
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| 测试场地 |
场地电压驻波比 |
CISPR16-1-4:2019ED4.0 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备 辐射骚扰 测量用天线和试验场地 |
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| 延时继电器 |
绝缘电阻 |
GJB1513A-20094.7.5 混合和固体延时继电器通用规范 |
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| 整流二极管 |
温度冲击试验 |
GJB360B—2009/方法107 电子及电气元件试验方法 |
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| 整流二极管 |
正向直流电压 |
GB/T4023-2015/7.1.2 半导体器件 分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 |
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| 整流二极管 |
反向电流 |
GB/T4023-2015/7.1.4 半导体器件 分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 |
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| 整流二极管 |
高温反偏老炼 |
GJB128A—1997/方法1038 半导体分立器件试验方法 |
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| 整流二极管 |
常温功率老炼 |
GJB128A—1997/方法1038 半导体分立器件试验方法 |
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| 延时继电器 |
温度循环 |
GJB1513A-20094.7.2.3 混合和固体延时继电器通用规范 |
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| 延时继电器 |
介质耐电压试验 |
GJB1513A-20094.7.4.2 混合和固体延时继电器通用规范 |
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