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半导体器件中超声检测检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:超声检测

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:非气密性封装元件的声学显微镜检查方法 IPC/JEDEC J-STD-035-1999 条款4

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 超声检测 非气密性封装元件的声学显微镜检查方法 IPC/JEDEC J-STD-035-1999 条款4

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