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半导体集成电路中粗检漏检测

  • 样品名称:半导体集成电路

  • 检测项目:粗检漏

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 1014.2条件C1

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体集成电路 粗检漏 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 1014.2条件C1

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