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集成电路中单片电路试验方法检测

  • 样品名称:集成电路

  • 检测项目:单片电路试验方法

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995,IEC 60749:1984 5C

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 集成电路 单片电路试验方法 半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995,IEC 60749:1984 5C

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