样品名称：半导体集成电路

检测项目：密封 细检漏

认可资质：其它

检测标准：半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路) GB/T 12750-2006, IEC 60748-11:1990 7 表4 B1

服务地点：全国

适用范围：电子电气

标签： 半导体集成电路 密封 细检漏 半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路) GB/T 12750-2006, IEC 60748-11:1990 7 表4 B1